在工藝技術層面上,一個N7+節點中可輸出一個定制芯片,N7+節點可在多達4個疊層上使用EUV(極紫外光刻),而能在多達14個疊層使用EUV的5nm工藝將于明年4月開始風險性試產,采用EUV的目的是通過減少先進芯片設計所需的掩膜(mask)數量來節約成本。
臺積電表示,基于對5nm工藝生產的Arm A72芯片測試,其速度提升14.7%到17.7%,而面積縮小1.8到1.86倍。同時,N7+節點的閘極密度增加 20%,功耗減少6%到12%,而對速度上的變化臺積電并未說明。
N5節點的芯片設計目前可以啟動,但大多數EDA(電子設計自動化)工具需要到今年11月份才能升級為0.9版本并進入準備狀態。另外,雖然臺積電的許多基礎IP模塊已經為N5準備就緒,但其他部分包括PCIe Gen 4與USB 3.1需要等到明年6月份才能做好準備。
N7+節點具備更緊密的金屬間距和能有效降低動態耗電量的單翼庫(single-fin library),此工藝將于明年4月份應用到車用芯片設計中。臺積設計暨技術平臺副總經理侯永清表示,N7+將提供與N7幾乎相同的模擬性能(analog performance)。
據臺積電稱,N7的晶體管密度是Foundry 40nm節點的16.8倍。然而值得注意的是,其成本也隨之增加。相關業內消息表示,N5設計總成本包括勞動力和授權費在內高達2億到2.5億美元,相比目前7nm芯片工藝1.5億的成本高出許多,這使得對摩爾定律的追求限制在富裕消費群體。