美商艾法斯(Aeroflex)的測試方案主要集中在ATE自動測試系統、航空電子測試、寬帶測試、通信測試、PXI模塊化儀表、信號源、頻譜儀和無線綜測儀領域。據艾法斯中國區技術支持與市場拓展部經理丁湛介紹，目前艾法斯中國已在北京、上海、深圳和西安設有代表處及辦事處，在TD-SCDMA領域，艾法斯與北京Starpoint公司成功合作并占領了60%以上的TD終端測試市場；在TD-LTE領域，該公司TM500網絡測試儀在包括基站研發、生產及現場測試的整個市場占90%以上的份額。而針對TD-LTE手機、數據卡等終端的測試，艾法斯開發了7100系列，應用于研發、生產、預認證測試，該開放測試平臺，可以讓用戶編寫TD測試用例來開發TD-LTE一致性測試系統。在生產測試方案上，艾法斯的3000系列PXI射頻模塊結合了PXI系統的高速性和模塊化理念，可滿足多用途的通用無線測試，除了在TD-SCDMA手機綜測儀領域與本地公司的合作，艾法斯PXI模塊已廣泛應用于國內手機生產線測試。
丁湛表示，艾法斯已成為TD產業聯盟第一批海外測試測量儀器廠商會員，艾法斯的各種TD測試方案已經被工業和信息化部電信研究院、中移動和廣大TD-LTE的系統設備制造商、芯片研發廠商及終端制造廠商等選擇作為試驗和測試的基準和工具。
S系列模擬信號源是艾法斯2010年推出的首款達到100μs頻率切換速度的高精度信號源，是業界首款全觸摸屏操作界面的射頻測試儀表，并采用了新穎的Aerolock模塊化互鎖機構設計。不久前，艾法斯又推出了該系列兩款最新儀器SGD數字矢量信號源和SVA矢量信號分析儀。SGD包括SGD-3(100kHz~3GHz)和SGD-6(100kHz~6GHz)兩款型號，SVA則包括SVA-6(250kHz~6GHz)和SVA-13(250kHz~13GHz)兩款型號。
據艾法斯亞太地區市場拓展經理Denny Che介紹，SGD的重要特性表現在多個方面：SGD-3和SGD-6都具備+13dBm的標準輸出電平，增加選件還可以支持+20dBm的最大信號輸出。信號源產品內安裝了一個支持300MHz的射頻帶寬的IQ調制器，從而使其能夠產生較寬帶寬的調制信號。其內置的雙通道任意波形發生器(AWG)采樣速度高達250MS/s，板載波形存儲空間最高可達4GB(選件)，而且支持快速的波形信號輸出并具有存儲多個信號的能力。嵌入式IQCreator波形產生工具使用戶能夠建立一個調制方案，并且通過調用模板創建一個可供AWG使用的調制波形文件。SGD在1GHz頻點偏置20kHz時僅有-135dBc/Hz的超低單邊帶(SSB)相位噪聲，并且支持僅為100μs的快速頻率切換時間，這將在要求嚴苛的接收機測試過程中為用戶顯著減少測量時間、節約測試成本。IQ調制器的高動態范圍提供了WCDMA信號高達-71dBc的鄰道功率特性(ACLR)，從而使用戶能夠按照更高技術規格來設計并測試其放大器性能。
在SVA方面，SVA-13的測試頻率范圍可擴展至13GHz，從而允許該儀器被用來分析常用的通信頻帶中信號的二次諧波性能。分析帶寬高達90MHz使它同樣適用于測量和分析窄帶和寬帶通信系統。SVA儀表可直接測量的峰值電平達+30dBm。憑借-148dBm/Hz的最大測試靈敏度，極低電平的信號也能夠從噪聲中清晰地分離出來，這對測量發射機的雜散信號輸出尤為重要。此外， SVA擁有一組多樣化的、用于無線通信測試的測量套件(選件)，覆蓋了絕大多數2G、3G、4G、WMAN、 WPAN、WLAN及LTE標準，可為研發及產線制造階段的移動終端測試提供符合測試標準的功率電平、調制質量和頻譜參數等測量結果。本振在2GHz、偏置為10MHz時的相位噪聲為-138dBc/Hz；同時在頻率高達6GHz時，頻率切換設置能在250μs內完成，使SVA成為高產能RFIC測試的理想選擇。
Denny表示，SVA可與SGD信號發生器或其它S系列模組同步并組合使用，從而減少了安置測試系統所需的空間，并帶給用戶簡便的高度集成化的測試解決方案。新S系列的目標市場包括前期研發、制造業、軍工與航天、服務與維護行業和通用領域。
京公網安備 11010502049343號