工業物聯網(Industrial Internet of Things, IIoT)可望加速成形。瞄準工業4.0掀起的IIoT發展熱潮，國家儀器(NI)于年度盛會NIWeek上大舉發布多款資料擷取與分析軟硬體解決方案，將有助克服現今工業系統無法有效處理和利用巨量類比資料(Big Analog Data)的瓶頸，進而實現具備智慧化資料量測與管理功能的IIoT系統。

國家儀器總裁兼執行長暨共同創辦人James Truchard指出，標準化的平臺式解決方案是克服巨量類比資料挑戰丶發展工業物聯網不可或缺的關鍵。

國家儀器總裁兼執行長暨共同創辦人James Truchard表示，巨量類比資料是IIoT發展的重要挑戰，IIoT系統唯有能從巨量類比資料中挖掘出有用的資訊方能帶來更大的附加價值;因此該公司分別針對資料擷取、控制及分析三個層面提出相對應的完整解決方案，協助物聯網前端(Edge)智慧系統開發商解決棘手的龐大類比資料處理問題，讓IIoT發展更加蓬勃。

國家儀器全球業務暨行銷副總裁Eric Starkloff進一步指出，IIoT所須處理的類比資料將與日俱增，而如何在這些巨量資料中提取出有用的資料并妥善進行深度分析便至為關鍵;換言之，資料擷取丶量測及分析的過程皆須更加智慧化，才能取得有利用價值的數據，并透過智慧化的管理發揮其最大效益。

也因此，針對資料擷取部分，國家儀器在本屆NIWeek大會上，推出全新的CompactDAQ量測系統，其結合英特爾(Intel)四核心Atom處理器和USB 3.0技術，透過最新LabVIEW 2015軟體即可設計程式，讓工程師可客制化自己的資料擷取系統，并在擷取過程中加入智慧和處理功能，僅取得有用且重要的資料。

另外，國家儀器還發布了三款新的控制器，包括高效能Compact RIO控制器，適合對耐用性要求較高的工業應用;FlexRIO控制器，適合高效能嵌入式應用;以及Single-board RIO控制器，適合須要提高嵌入式應用彈性的設計。這些控制器搭載了英特爾(Intel)和賽靈思(Xilinx)最新的嵌入式方案，可提供更高的處理效能及彈性，助力系統設計師和機臺建置商克服資料監控難題。

Starkloff強調，這一系列新的RIO硬體控制器皆是基于該公司所提出的LabVIEW RIO架構所開發而成，內建現場可編程閘陣列(FPGA)及中央處理器(CPU)，可幫助工程師快速設計嵌入式系統丶制作原型并加以部署，以滿足工業物聯網進階的資料監控應用需求。

除提升資料擷取、監控的智慧效能外，國家儀器也推出DIAdem 2015和DataFinder伺服器版2015等軟體方案，強化資料分析能力;前者為64位元版本，使用者可在DIAdem環境中載入和分析更多資料;后者提供了多步驟查詢功能，可在幾秒內找到使用者想分析的資料。