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目前，吞吐量正成為DWDM設(shè)備生產(chǎn)的主要瓶頸。為了應(yīng)對(duì)這一問題，JDSU正通過測(cè)試高性能DWDMs、ROADMs和光子層電路板以實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)率的大幅提高。JDSU的改進(jìn)工作主要包括：

第一，在不犧牲性能的情況下，JDSU通過增加兩倍速度使高端口數(shù)CDC ROADM的完整功能得到充分發(fā)揮，以獲得更大的生產(chǎn)吞吐量。

第二，每個(gè)測(cè)試模塊的功率計(jì)增加一倍，最大限度地減少測(cè)試站的運(yùn)維成本至50%。

第三，通過一個(gè)分布式的可調(diào)諧激光發(fā)射器（最多可支持8個(gè)測(cè)試站）迅速形成規(guī)模生產(chǎn)，提供業(yè)界最具成本效益的解決方案。

此外，JDSU還為客戶提供了下一代100 G CDC設(shè)備生產(chǎn)行業(yè)領(lǐng)先的功能，包括40 nm/s掃描速度、>70 dB動(dòng)態(tài)范圍和0.4 pm波長(zhǎng)分辨率。JDSU在這方面積累了13年的經(jīng)驗(yàn)并通過自己的創(chuàng)新設(shè)計(jì)引領(lǐng)DWDM測(cè)試市場(chǎng)。

另外，對(duì)于目前的MAP-200用戶，JDSU通過測(cè)試整合后簡(jiǎn)化了超過20個(gè)模塊的功能，幾乎使所有生產(chǎn)設(shè)備具備同樣的光電子測(cè)試功能。