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三星 8LPP 工藝參考流程利用 Mentor Tessent 工具節省大量設計測試時間

責任編輯:hxy

2018-05-28 10:28:06

摘自:Mentor

Mentor, a Siemens business 今天宣布,三星電子有限公司根據三星代工廠的 8nm LPP(低功耗 Plus)工藝對 MentorTessent 產品進行了認證。對于針對移動通信、高速網絡 服務器計算、加密貨幣和自動駕駛等市場的特大型設計,這些工具可大幅縮短設計和測試時間。

Mentor, a Siemens business 今天宣布,三星電子有限公司根據三星代工廠的 8nm LPP(低功耗 Plus)工藝對 MentorTessent 產品進行了認證。對于針對移動通信、高速網絡/服務器計算、加密貨幣和自動駕駛等市場的特大型設計,這些工具可大幅縮短設計和測試時間。

當今領先半導體器件的特大型設計可能會因需要大量計算資源、測試向量生成時間太長或在設計流程中執行得太晚而受到拖累。TessentTestKompress? 工具通過提供采用層次化可測試性設計 (DFT) 方法的自動功能來解決這些問題。三星代工廠解決方案參考流程包括在寄存器傳輸級 (RTL) 設計階段早期自動插入的 TestKompress 掃描壓縮邏輯控制器和 Tessent ScanPro 片上時鐘控制器。只要內核設計準備就緒,Tessent TestKompress 即可用于在設計流程早期創建該內核的測試向量。這些測試向量可直接重復使用,并自動重定向到全芯片設計。因此,可將用于自動測試模式生成 (ATPG) 的計算資源和 ATPG 運行時間提高一個數量級。Tessent 層次化 DFT 流程中不需要完整的器件網表。 

“在 EUV 時代之前推出的這些工藝中,從性能、功耗和面積方面考慮,我們的 8LPP 都是最佳之選。”三星電子代工市場營銷副總裁 Ryan Lee 說道。“我們與 Mentor 長期合作,這將使我們的 8LPP 對雙方客戶而言更具吸引力。Mentor 的 Tessent TestKompress 層次化 DFT 解決方案是此類技術的一個例子,將節省大量測試生成周轉時間。” 

Tessent TestKompress 工具用于將掃描數據輸入共享到 MCP(多核處理器)設計中的眾設計內核。共享輸入管腳可實現更高級別的測試向量壓縮,而這關系到降低生產測試成本。Tessent Diagnosis 和 TessentYieldInsight? 工具用于查找系統性良率限制因素并提高制造良率。這些工具包括執行反向模式映射的自動化,可令失效生產模式直接映射到與其相關的層次化模塊。對目標模塊執行診斷可以大大縮短診斷時間,減少計算資源。 

“規模更大且更加復雜的設計需要額外的 DFT 和自動化才能滿足上市時間和測試成本要求,而借助三星代工廠的 8LPP 便可以實現。”Mentor Tessent產品系列營銷總監 Brady Benware 說道。“該參考流程中的關鍵功能,如層次化 DFT,目前被業界廣泛采用,對于此新工藝技術的成功至關重要。”

 

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