近日，由中科院自動化研究所譚杰研究員等人研究發明的Method and Apparatus for Testing the Performance of Radio Frequency Identification System(PCT專利號：PCT/CN2010/002054、美國專利號:13/143,041)在美國獲得授權。該發明專利于2010年通過申請國際PCT途徑，于2011年申請進入美國，并于近日獲得授權。它是自動化所首個通過國際PCT途徑在美國獲得授權的專利。
該發明專利是高速運動電子標簽的射頻應用系統性能的測試系統和方法，由讀寫器發射天線、頻譜分析儀接收天線、待測電子標簽、讀寫器天線支架、待測讀寫器、頻譜分析儀、控制計算機、驅動電機控制器、驅動電機、轉盤、防護罩、支撐臺組成，其方法是通過驅動電機帶動轉盤，使固接在轉盤上的待測電子標簽以高速運動，利用電子標簽在轉盤切線方向的速度來模擬實際應用中電子標簽直線運動速度，從而科學的、可重復的對電子標簽在高速運動狀態下的RFID應用系統性能進行評價。
隨著RFID的應用規模越來越大，RFID天線和讀寫器的品種越來越多，為了在眾多的RFID讀寫器和標簽中選擇最符合使用者需求的產品，需要對RFID產品的性能指標進行專門的測試。在智能停車場、高速公路不停車收費等實際應用中，RFID讀寫器和標簽之間存在快速相對運動。傳統高速運動狀態下RFID產品性能測試系統和方法存在占用空間大、建設成本高、實驗過程不穩定等缺點。針對傳統方法的缺點，該項專利提出的一種電子標簽在高速運動狀態下的RFID應用系統性能基準測試系統及方法，該系統和方法能在測試過程中較好的還原真實測試場景。為使用者提供一種簡單、明確、有效的自動化測試工具和基準測試方法，用以在可重復條件下快速評價電子標簽處于高速運動狀態應用場景中RFID應用系統性能，從而為使用者設備選型提供決策參考。
作為物聯網的核心技術之一，RFID技術有廣闊的應用前景和巨大的應用價值。RFID性能測試設備和技術能為用戶設備選型提供決策參考，是RFID技術實際應用的基礎。該項專利提出的系統及方法能夠為用戶提供一種簡單、明確、有效的自動化測試方式。有助于提升我國在RFID領域自主創新能力，屬于支撐我國高技術產業與新興產業發展的技術領域，符合資助管理辦法。
該項專利已經在中國和美國都取得正式授權，從而增強了我國在RFID性能測試方面的競爭力，完善了我國RFID測試技術專利池，為將來參與RFID國際測試標準制定爭取了更多話語權。
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